Испытательные комплексы

Комплекс испытательный обнаружения посторонних частиц в подкорпусном пространстве полупроводниковых приборов, интегральных схем и электромагнитных реле ДМТ–141

Комплекс испытательный для электротермотренировки радиоэлектронных элементов и устройств ДМТ-146

Комплекс испытательный для электротермотренировки радиоэлектронных элементов и устройств ДМТ-145

Комплекс испытательный для электротермотренировки радиоэлектронных элементов и устройств ДМТ-145C, с возможностью проведения испытаний устройств в СВЧ диапазоне.

Температурная камера ДМТ-148

Пост опрессовки изделий электронной техники гелием ДМТ–155

Комплекс для проведения испытаний на воздействие быстрого изменения давления ДМТ–159

Комплекс для проведения испытаний при высоких (100 МПа) давлениях ДМТ-161

Комплекс для проведения испытаний в температурном диапазоне от минус 60 оС до 250 оС ДМТ-162

Стенд термотренировки микросхем ДМТ-171

Стенд ЭТТ силовых модулей ДМТ-180

Стенд предназначен для предварительных, квалификационных и периодических испытаний дискретных FRD, MOSFET, IGBT и FRD-, MOSFET-, IGBT- модулей через контактирующее устройство, встроенное в испытательный стенд.

Программируемая электронная нагрузка для моделирования нагрузки и диагностики работы источников электропитания, аккумуляторов, силовых компонентов электронных приборов и другого оборудования ДМТ-239.

Программируемая электронная нагрузка для моделирования нагрузки и диагностики работы источников электропитания, аккумуляторов, силовых компонентов электронных приборов и другого оборудования ДМТ-240.

Программируемая электронная нагрузка для моделирования нагрузки и диагностики работы источников электропитания, аккумуляторов, силовых компонентов электронных приборов и другого оборудования ДМТ-240.