Комплекс ДМТ-410 предназначен для проведения анализа тепловых полей ЭРИ, обнаружения локальных точек перегрева на кристалле ИМС, печатных платах и других объектах при испытаниях.
На уровне дискретных элементов с помощью комплекса ДМТ-410 выполняется:
- контроль сварного соединения выводов с кристаллом
- измерение теплового сопротивления
- поиск дефектов структуры на кристалле
- поиск мест повышенных утечек в кристалле при изменении частоты
- выявление предельной температуры работы
- определение неравномерности токопроводящих покрытий.
На уровне систем с помощью теплового контроля можно выполнить:
- oпределение неравномерности распределения температуры внутри корпуса изделия
- оценка эффективности установки дополнительных теплоотводящих элементов
К общему списку