Комплекс испытательный обнаружения посторонних частиц в подкорпусном пространстве полупроводниковых приборов, интегральных схем и электромагнитных реле ДМТ–141

Подробнее

Комплекс испытательный для электротермотренировки радиоэлектронных элементов и устройств ДМТ-145

Подробнее

Температурная камера ДМТ-148

Подробнее

Пост опрессовки изделий электронной техники гелием ДМТ–155

Подробнее

Комплекс для проведения испытаний на воздействие быстрого изменения давления ДМТ–159

Подробнее

Комплекс для проведения испытаний при высоких (100 МПа) давлениях ДМТ-161

Подробнее

Комплекс для проведения испытаний в температурном диапазоне от минус 60 оС до 250 оС ДМТ-162

Подробнее

Стенд термотренировки микросхем ДМТ-171

Подробнее