Главная страница Программно-аппаратные комплексы Измерительные комплексы Комплекс тестирования параметров цифровых ИМС TESEDA
Комплекс тестирования параметров цифровых ИМС TESEDA

 

 

Программно-аппаратный комплекс Teseda (далее – комплекс Teseda) предназначен для воспроизведения и измерения напряжения и силы постоянного тока, частоты следования прямоугольных импульсов и применяется для высокопроизводительного функционального и параметрического контроля ТТЛ и КМОП микросхем с числом выводов до 512 с рабочей частотой до 100 МГц. Комплекс Teseda обеспечивает формирование тестовой последовательности длиной до 64М наборов векторов.

•Комплекс Teseda разработан для отладки, диагностики на основе сканирования, и анализа отказов полупроводников.

•Комплекс Teseda включает тестер Diagnostic Test Hardware™ (далее – тестер) и один из трех пакетов программного обеспечения (ПО), отличающихся функциональностью:

Field Triage System™,

Diagnostic Test System™ ,

DI Lab System™.

•Комплекс Teseda включает также плату параметрических измерений для проведения параметрических испытаний при постоянном токе.

•Комплекс Teseda обеспечивает подачу испытательных сигналов (стимула) для динамических приложений анализа отказов, таких как LIVA, TIVA, XIVA, OBIRCH, OBIC, LADA и SEI.

•Габариты тестера позволяют его устанавливать в большинстве оборудования, использующегося для анализа отказов, включая антивибрационное оборудование.

•Комплекс поддерживает распространенные материнские платы для испытаний, такие как  DTS Level Shifter Board, General Purpose и Field Triage Mother Boards (www.Dynamic-Test.com).

Основные параметры Тестера Teseda

Параметр

Значение

Каналы сигналов

Количество каналов ввода/вывода

до 512

Частота тестирования, МГц

до 100

Количество независимых временных зон

4 (128 каналов на зону)

Формат такта или данных, устанавливаемый для каждого канала ввода/вывода

До 8 форм сигнала,

До 40 активных фронтов,

До двух времен стробирования.

Режимы захвата результатов

Режим годен/не годен

64 млн. векторов воздействия и ожидаемых данных

Режим захвата полных данных и отказов

40 млн. векторов воздействия и ожидаемых данных,

40 млн. векторов захвата.

Временные характеристики

Частотный диапазон / период

25 кГц – 100 МГц / 10 нс – 40 мкс

Разрешение установки активного фронта

· Тактовые импульсы

· Данные

· Стробирование

Погрешность (типичная)

Джиттер (типичный)

· 50 пкс

· 2,5 нс

· 50 пкс

± 600 пкс

30 пкс (среднеквадратичный),

400 пкс размах

Характеристики постоянного тока

Количество независимых зон постоянного тока

8 (64 канала на зону)

Логические уровни, для зоны постоянного тока

LVCMOS

3.3В, 2.5В, 1.8В, 1.5В

Регулировка VOH:

±600 мВ

Разрешение VOH:

10 мВ

Диапазон питания интерфейса ввода/вывода

1.1 В – 3.6 В

Нагрузочная способность

12 мА

Встроенные источники питания (далее – ИП) испытываемых устройств (далее – ИУ)

Количество ИП для ИУ

7

Четыре источника, ток / диапазон напряжений

4 А / 0,75 – 3,8 В

Два источника, ток / диапазон напряжений

200 мА / 0,75 – 3,8 В

Один источник, ток / диапазон напряжений

30 мА / 5 – 25 В

Разрешение

10 мВ

Встроенные ИП платы ИУ

Один фиксированный, ток / напряжение

1 А / 3,3 В

Один фиксированный, ток / напряжение

1 А / 5 В

Встроенная карта модулей параметрических измерений

Количество каналов

512

Количество независимых  модулей параметрических измерений

32

Диапазон напряжений сигналов / измерений

± 8 В

Разрешение по напряжению

200 мкВ

Диапазоны токов сигналов / измерений

± 5мкA, ± 20uA, ± 200 мкA,

± 2 мA, ± 37.4 мA

Разрешение по току в низшем диапазоне

15,25 пкА

Шаблоны испытаний по постоянному току

Постоянный высокий,

постоянный низкий, IIL,

IIH, IOL, IOH, IOZL, IOZH,

VOL, VOH)

Количество разъемов подключения внешних приборов

4


Временные характеристики форм сигналов

Логика

Минимальная ширина импульса

Минимальный выделяемый импульс

Максимальная (эффективная) скорость испытания задержки

LVCMOS 3.3В

2 нс

2 нс

250 МГц

LVCMOS 2.5 В

2 нс

2 нс

250 МГц

LVCMOS 1.8 В

2 нс

2 нс

250 МГц

LVCMOS 1.5 В

3 нс

2 нс

250 МГц


Физические характеристики тестера
Teseda

Габариты (В х Ш х Д), см

10.16 х 39.37 х 36.83

Вес, кг

6.13


Рабочие условия

Диапазон рабочих температур

15 – 30 С

Влажность

30 – 80 %, отсутствие конденсации

Параметры питания

Переменный ток, 90-265 В, 50/60 Гц

 

Стандарты безопасности

TUV, CE


Требования к управляющей ПЭВМ (не входит в состав Комплекса)

ОС

Microsoft Windows 7 / Windows 8.1

Частота, не менее

2 ГГц

ОЗУ, не менее

6 ГБ

Свободное дисковое пространство, не менее

40 ГБ

Ethernet

10/100 Base-T

 

 
 

Поиск по сайту